產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
RFID電子標(biāo)簽抗扭曲測(cè)試儀用于測(cè)試超高頻RFID電子標(biāo)簽的抗扭曲能力，完全滿足國家標(biāo)準(zhǔn)以及國家電網(wǎng)企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)電子標(biāo)簽得抗扭曲的測(cè)試要求。
詳情介紹：
BBT-Q50RFID電子標(biāo)簽抗扭曲測(cè)試儀技術(shù)特點(diǎn)
2 采用7寸工業(yè)級(jí)觸摸屏控制，可視化操作界面，輕觸手指便可完成全部測(cè)試流程。
2 啟動(dòng)測(cè)試后能自動(dòng)完成試驗(yàn)步驟。
BBT-Q50RFID電子標(biāo)簽抗扭曲測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù)
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顯示操作方式 |
觸摸屏操控 |
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卡槽工位個(gè)數(shù) |
5個(gè) |
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旋轉(zhuǎn)角度 |
1°~ 90° |
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施加次數(shù) |
1~9999次 |
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間隔時(shí)間 |
1~9999 |
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扭曲速度 |
10~100 °/s（可更改） |
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特定功能 |
開機(jī)自動(dòng)回位原點(diǎn) 異常情況自動(dòng)回位原點(diǎn) 可即時(shí)暫停/繼續(xù)試驗(yàn)進(jìn)程 可即時(shí)中斷測(cè)試，并能自動(dòng)回位原點(diǎn) |
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